O medidor de rugosidade digital portátil TR-220 é uma solução avançada para medição de rugosidade, proporcionando precisão e versatilidade em um único instrumento. Fabricado pela conceituada marca Time Homis, este dispositivo é essencial para garantir a qualidade e conformidade dos processos industriais.
Variedade de configurações:
O TR-220 fornece medição de vários parâmetros de rugosidade, incluindo Ra, Rz, Ry, Rq, Rt, Rp, Rmax, Rv, R3z, Rs, Rsm, Rsk, Rmr, Rpc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1 e Mr2.
Tecnologia avançada:
Equipado com tecnologia avançada, este testador de rugosidade oferece resultados precisos e confiáveis (precisão de ±10%), garantindo qualidade e consistência nas medições.
Exibição gráfica e intuitiva:
Sua exibição gráfica fornece uma representação visual clara dos resultados, facilitando a interpretação e a análise das características da superfície. Portabilidade e durabilidade:
Com design compacto e robusto, o TR-220 é portátil e durável, adequado para uso em diversos ambientes industriais.
Economia de dados:
Possui armazenamento interno para gravação, possibilitando acompanhar a evolução das medições ao longo do tempo.
Conectividade avançada:
Fornece opções avançadas de conectividade, incluindo USB, para transferência eficiente de dados e integração com sistemas analíticos.
Características:
- Modelo portátil e avançado
- Equipamento de fácil operação
- Display LCD com luz de fundo
- Bateria recarregável
- Software incluso
Especificações:
Escalas de Rugosidade |
Ra, Rz, Ry, Rq, Rt, Rp, Rmax, Rv, R3z, RS, RSm, RSk, Rmr, Rpc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1 e Mr2 |
Resolução do Display |
0,01 µm |
Escala de Medição |
0,025 a 12,5 µm |
Comprimento de Corte |
0,25 mm/ 0,8 mm/ 2,5 mm/ Auto |
Comprimento de Avaliação |
1 a 5 L |
Comprimento |
(1 a 5)L + 2L |
Filtro Digital |
RC, PC-RC, Gaus, D-P |
Comprimento Máximo |
17,5 mm |
Comprimento Mínimo |
1,8 mm |
Precisão |
±10% |
Repetibilidade |
6% |
Interface |
RS232 |
Alimentação |
Bateria recarregável |
Dimensões |
141x56x48 mm |
Peso |
440 g |
Certificações |
ISO, DIN, ANSI e JIS |